Андрущак Назарій Анатолійович

Андрущак Назарій Анатолійович

Кандидат технічних наук, асистент кафедри САПР

E-mail: nandrush@gmail.com

Освіта:

  • Національний університет "Львівська політехніка", кафедра телекомунікації, спеціальність "Інформаційні мережі зв'язку", магістр (з відзнакою), 2008.
  • Університет Арканзасу (США), кафедра мікроелектроніки-фотоніки, спеціальність "Мікроелектроніка-фотоніка", магістр, 2012.
  • Аспірантура, Національний університет "Львівська політехніка", кафедра фотоніки, спеціальність "Оптоелектронні системи", 2008-2012.
  • Кандидатська дисертація, "Розробка методів та засобів визначення показників заломлення оптоелектронних елементів у діапазоні довжин хвиль 400нм?10мм", Національний університет "Львівська політехніка", 2013.

Нагороди:

  • Грант Президента України для молодих учених (до 35р.). 2014
  • Переможець стипендіальної програми академічних обмінів ім. Фулбрайта для навчання в США (2009-2012р.). 2009
  • Переможець стипендіальної програми В. Пінчука "Завтра.UA". 2007, 2008

Професійна діяльність:

  • 2008-2012 - аспірант Національного університету "Львівська політехніка", кафедра фотоніки.
  • 2012-2013 - асистент кафедри фотоніки Національного університету "Львівська політехніка".
  • 2014 - с.н.с. кафедри електронних приладів Національного університету "Львівська політехніка".
  • з 2014 - асистент кафедри САПР Національного університету "Львівська політехніка".

Наукові інтереси:

Автоматизація вимірювальних установок з використанням програмного середовища LabVIEW; розробка методик та засобів вимірювання діелектричної проникності та показників заломлення ізотропних та анізотропних матеріалів в широкому діапазоні довжин хвиль; перетворення та розпізнавання образів; розробка алгоритмів для розпізнавання 2D/3D зображень.

Основні публікації:

  1. Andrushchak N., Vasylyshyn V., Chornenkyy V. Comparative analysis of algorithms for projected laser line identification and recognition for 3d scanning devices // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". Серія "Комп'ютерні системи проектування. Теорія і практика", 2015, № 828. - 2016. - P. 84-91.
  2. Бурий О.А., Андрущак Н.А., Яремко О.М., Убізський С.Б. Оптимізація геометрії лінійного електрооптичного ефекту в кристалах LiNbO3:MgO // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". Серія "Радіоелектроніка та телекомунікації". - 2016. - № 849. - C. 285-292. (ДБ/ Анізотропія, Фундаментальні дослідження) (Index Copernicus International).
  3. Андрущак А.С., Готра З.Ю., Бурий О.А., Андрущак Н.А., Кітик А.Інформаційна технологія оптимального використання анізотропних матеріалів як робочих елементів пристроїв інфокомунікаційних систем // "Фізико-технологічні проблеми передавання, оброблення та зберігання інформації в інфокомунікаційних системах": Матеріали V-ої Міжнародної науково-практичної конференції (м. Чернівці, 3-5 листопада 2016 р.). - 2016. - C. 257-259. (ДБ/ Анізотропія, Фундаментальні дослідження)
  4. Андрущак А.С., Матвійчук Я.М., Андрущак Н.А., Васьків А.П., Rysek A., Kityk A. Кристалічні нанокомпозити із заданою анізотропією як активні елементи оптоелектронних пристроїв // Relaxed, nonlinear and acoustic optical processes and materials: Proc. of EIGHTH INTERNATIONAL WORKSHOP ( Lutsk-Lake "Svityaz" June 1-4, 2016). - 2016. - P. 70-72. (ДБ/ Анізотропія, Фундаментальні дослідження)
  5. Andrushchak N., Kityk A., Andrushchak A. Perspective of Design of Crystalline Nanocomposites with Tailored Anisotropy as Active Elements in Optoelectronics // Нанотехнології і наноматеріали: Праці IV Міжнародної науково-практичної конференції (Львів, 24-27 серпня, 2016). - 2016. - P. 24. (ДБ/ Анізотропія, Фундаментальні дослідження)
  6. Buryy Oleg, Andrushchak Nazariy, Demyanyshyn Natalia, Andrushchak Anatoliy, Mytsyk Bohdan. The Acousto-Optic Effect Maxima in SrB4O7 Crystals // Proceedings of 13th International Conference on Laser and Fiber Optical Networks Modeling, 13-15 September, 2016, Odessa. - 2016. - P. 65-66. (ДБ/ Анізотропія, Фундаментальні дослідження)
  7. Andrushchak A., Buryy O., Andrushchak N., Yaremko O., Rysek A., Kityk A. Global maxima of linear electro-optic effect for selected widely used crystalline materials // 7th International Conference on Advanced Optoelectronics and Lasers CAOL 2016, 12-15 September, 2016, Odessa, Ukraine. - 2016. - P. 176-178. (ДБ/ Анізотропія, Фундаментальні дослідження) (SciVerse SCOPUS).
  8. Ivan Karbovnyk, Nazariy Andrushchak, Ihor Shchur. Using LabVIEW in Automated Measurements of Refractive Indices in Optical Range // Cучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET'2016): Матеріали XIII Міжнародної конференції (Львів-Славсько, Україна, 23-26 лютого 2016). - 2016. - P. 195-197. (Google Scholar, SciVerse SCOPUS).
  1. N.A. Andrushchak, I.D. Karbovnyk, K. Godziszewski, Ye. Yashchyshyn, M.V. Lobur, A.S. Andrushchak. New Interference Technique for Determination of Low Loss Materials Permittivity in the Extremely High Frequency Range // IEEE Trans. Instrum. Meas, vol. 64, Issue. 11, pp. 3005-3012, 2015
  2. N.A. Andrushchak, V.S. Andrushchak. Algorithms of Setup Operation for Measuring the Materials Permittivity in Millimeter Wave Range // Досвід розробки і застосування САПР в мікроелектроніці: матеріали XIII міжнародної конференції CADSM-2015, 24-27 лютого 2015, Поляна, Україна / Національний Університет "Львівська Політехніка". – Л.: Вежа і Ко, 2015 – C.102-105-Парал.тит.арк.англ.
  3. N.A. Andrushchak, Ye.M. Yashchyshyn, K. Godziszewski, J. Grothe, S. Kaskel, A.S. Andrushchak, A.V. Kityk. Electro-optical investigation of bulk and nanostructured materials with tailored anisotropy in subTHz frequency range // Proceedings of Nanotechnology and Nanomaterials (NANO-2015), 2015, August 26-29, Lviv (Ukraine). – p.19.
  4. M.V. Lobur, Y.M.Yashchyshyn, P.V. Livchak, N.A. Andrushchak, O.M. Matviykiv, M.I. Andriychuk, O. Farafonov, M. Mischenko, N. Furmanova, J. Lacik, O. Wilfert, Z. Raida. Development of Master Degree Program on Design and Application of Reconfigurable Smart Radioelectronic Devices // Досвід розробки і застосування САПР в мікроелектроніці: матеріали XIII міжнародної конференції CADSM-2015, 24-27 лютого 2015, Поляна, Україна / Національний Університет "Львівська Політехніка". – Л.: Вежа і Ко, 2015 – C.122-125- Парал.тит.арк.англ.
  1. N. Andrushchak, V. Koziy, I. Karbovnyk, A. Andrushchak. "Automated optical refractive index measurements using LabVIEW controlled gearless motor", in Proceedings of the XXII Ukrainian-Polish Conference (CADMD'2014). - Oct. 10-11, 2014, Lviv(Ukraine). - pp. 122-127.
  2. N. Andrushchak, A. Yatskevych. "A new technological method for Evaluation of Postoperative Orthopedic Surgeries", in Proceedings of the XXII Ukrainian-Polish Conference (CADMD'2014). - Oct. 10-11, 2014, Lviv(Ukraine). - pp. 128-132.
  3. N.A. Andrushchak, Ye.M. Yashchyshyn, A.S. Andrushchak, I.D.Karbovnyk, V.B. Koziy. "Optic and quasi-optic investigations of nanocrystalline structures", in Proceedings of Nanotechnologies: from fundamental research to innovations, 2014, August 27-30, Lviv (Ukraine). - Р.443-444.
  4. Andrushchak A.S., Kushnir O.S., Yurkevych O.V., Andrushchak N.A., Adamiv V.T., Rusek A., and Kityk A. Experimental and analytical investigations for the anisotropy of linear electrooptical and nonlinear optical effects in crystalline materials // Proc. of 7th International Workshop "Relaxed, nonlinear and acoustic optical processes and materials" - RNAOPM'2014. - June 8-12, 2014, Lutsk-Lake "Svityaz'" (Ukraine). - P.194.
  5. N. Andrushchak, Ye. Yashchyshyn, I. Karbovnyk, A. Vaskiv, A. Andrushchak. "A novel approach for measuring dielectric permittivity at Sub-THz frequencies using vector network analyzer," in Proceeding of the International Conference TCSET, 2014, pp. 168-170.
  6. Пат. №94390 Україна, МПК G09F 11/00. Динамічний пристрій / Андрущак Н.А. - №u2014 06045; заявл. 02.06.2014; опубл. 10.11.2014, Бюл. №21.
  1. Andrushchak A. S., Voronyak Т. І., Yurkevych O. V., Andrushchak N. A., Kityk A. V. Interferometric technique for controlling wedge angle and surface flatness of optical slabs // Optics & Lasers in Engineering. - 2013.- V.51, No.4 - P.342-347.
  1. Пат. №93863 Україна, МПК G01N 22/00. Векторно-аналізаторний інтерференційний пристрій вимірювання діелектричної проникливості матеріалів / Ящишин Є.М., Андрущак Н.А., Годжішевський К, Кушнір О.С., Андрущак А.С. - №u2014 00822; заявл. 29.01.2014; опубл. 27.10.2012, Бюл. №20.
  2. Пат. №69582 Україна, МПК G01N 21/41. Спосіб вимірювання показника заломлення оптичних матеріалів із непаралельними гранями досліджуваних зразків / Андрущак Н. А., Бобицький Я. В., Андрущак А. С. - №u2011 09352; заявл. 26.07.2011; опубл. 10.05.2012, Бюл. №9.
  3. Sub-THz Automated Measurements of the Refractive Indices in Materials / Ye. Yashchyshyn, N. Andrushchak, I. Karbovnyk, A. Andrushchak // The XVIIIth International Seminar on Physics and Chemistry of Solids. - September 12-15, 2012, Lviv (Ukraine). - P. 106.
  4. Дисперсія показників заломлення кристалічних матеріалів в широкому діапазоні змін довжин хвиль: від оптичного до сантиметрового / Н. А. Андрущак, І. Д. Карбовник, Я. В. Бобицький, Є. М. Ящишин // Тези ХV відкритої науково-технічної конференції ІТРЕ НУ "Львівська політехніка" з проблем електроніки. - 3-5 квітня 2012, Львів (Україна). - C. 24.
  1. Andrushchak N. A., Syrotynsky O. I., Karbovnyk I. D., Bobitskii Ya. V., Andrushchak A. S., Kityk A. V. Interferometry technique for refractive index measurements at subcentimeter wavelengths // Microwave and Opt. Technol. Lett. - 2011. - Vol. 53. - P. 1193-1196.
  2. Андрущак А. С., Юркевич О. В., Андрущак Н. А., Кушнір О., Кітик А. Просторова анізотропія фотопружного ефекту в кристалах кварцу // Електроніка та інформаційні технології. - 2011. - №1. - С. 98-109.
  1. Andrushchak A. S., Chernyhivsky E. M., Gotra Z. Yu., Kaidan M. V., Kityk A. V., Andrushchak N.A., Maksymyuk T. A., Mytsyk B. G., Schranz W. Spatial anisotropy of the acoustooptical efficiency in lithium niobate crystals // J. Appl. Phys. - 2010. - V.108. - pp.103118 (1-5).
  2. Андрущак Н., Карбовник І., Бобицький Я., Андрущак А., Кушнір О. Удосконалення процесу вимірювань показника заломлення інтерферометрично-поворотним методом // Теоретична електротехніка. - 2010. - № 61. - C. 120-127.
  3. A new method for refractive index measurement of isotropic and anisotropic materials in millimeter and submillimeter wave range / N. A. Andrushchak, Ya. V. Bobitskii, T. V. Maksymyuk [et al.] // Proceeding of the 18th International Conference on Microwave, Radar and Wireless Communications MIKON-2010. - June 16-18, Vilnius (Lithuania). - P. 273-275.
  4. I.D. Karbovnyk, N.A. Andrushchak, Y.V. Bobitskii, "Enhanced interferometric technique for non-destructive characterization of crystalline optical materials: automated express refractive index measurements," International Conference on Advanced Optoelectronics and Lasers (CAOL), 2010, Conference Proceedings, pp. 226-227.
  1. Пат. №39155 Україна, МПК G 01 N 21/01. Інтерферометрично-поворотний спосіб вимірювання показника заломлення оптичних матеріалів / Андрущак А.С., Тибінка Б.В., Андрущак Н.А., Думич С.С.; заявник та патентовласник НУ"ЛП". - №u200810203; заявл. 08.08.2008; опубл. 10.02.2009, Бюл. № 3.
  2. Андрущак Н. А., Сиротинський О. І. Інтерферометрична установка для визначення показника заломлення плоскопаралельних пластин в діапазонах мм-субмм довжин хвиль. Апробація на прикладі оптичного скла і кристалів кварцу, сапфіру та евлітину // Вісник НУ "Львівська політехніка". Електроніка. - 2009. - №646. - C. 179-184.
  3. Андрущак Н.А. Експериментальна установка для вимірювання показника заломлення матеріалів в діапазоні міліметрових-субміліметрових хвиль / Н. А. Андрущак, О. І. Сиротинський // Тези 5-ї міжнародної молодіжної науково-технічної кон­ференції "Современные проблемы радиотехники и телекоммуникаций РТ-2009". - 20-26 квітня, Севастополь (Крим, Україна). - С. 194.
  1. Пат. №35224 Україна, МПК G 01 N 22/00. Інтерферометрично-поворотний пристрій для вимірювання показника заломлення ізотропних та анізотропних матеріалів в діапазоні міліметрових та сантиметрових довжин хвиль / Андрущак А.С., Сиротинський О.І., Андрущак Н.А., Ящишин Є.М.; заявник та патентовласник НУ"ЛП". - №u200804095; заявл. 01.04.2008; опубл. 10.09.2008, Бюл. № 17.
  2. Andrushchak A. S. Automation of measuring process of materials refractive indexes in the millimeter-submilimeter waves range by interferometric-turning method / A. S. Andrushchak, O. I. Syrotynskiy, N. A. Andrushchak // Abstract Intern. Conf. CAOL- 29 September- October 4, 2008, Alushta (Crimea, Ukraine). - P. 174.
  3. Андрущак Н. Оцінка похибки визначення показників заломлення плоскопара-лельних пластин інтерферометрично-поворотним методом в діапазоні мм-субмм хвиль / Н. Андрущак, О. Сиротинський // Тези ХІ відкритої науково-технічної конференції ІТРЕ НУ "Львівська політехніка" з проблем електроніки. - 1-3 квітня 2008, Львів (Україна). - C. 6.
  4. Andrushchak A. S. Automation of measuring process of materials refractive indexes in the millimeter waves range by interferometric-turning method / A. S. Andrushchak, O. I . Syrotynskiy, N. A. Andrushchak // Proceeding of the International Conference TCSET' 2008. - February 19-23, 2008, Lviv-Slavske (Ukraine). - P. 224.
  1. Андрущак Н. А., Сиротинський О. І. Визначення показника заломлення плоскопаралельних пластин інтерферометрично-поворотним методом в діапазоні мм-субмм хвиль // Моделювання та інформаційні технології. - 2007. - №42. - С. 97-102.
  2. Андрущак Н. А. Інтерферометрично-поворотний метод вимірювання показника заломлення ізотропних та анізотропних матеріалів в мм-субмм діапазоні / Н. А. Андрущак, О. І. Сиротинський // Матеріали науково-методичної конференції "Сучасні проблеми телекомунікацій і підготовка фахівців в галузі телекомунікацій-2007". - 17-20 жовтня 2007, Львів (Україна). - C. 12-13.